Анализаторы по задачам

Металлы и сплавы

Катализаторы

Определение Углерода

Драгоценные металлы

RoHs

Геохимия

Категории
Показать категории
Скрыть категории

Инспекционные микроскопы, чаще всего используемые для полупроводников

Цена по запросу
0 отзывов | 0 отзывов
На странице:

Инспекционный микроскоп серии MX предназначен для исследования материалов и компонентов используемых в микроэлектронной промышленности — полупроводники, кремниевые пластины, кристаллы, устройства хранения информации, ЖК-дисплеи, MEMS (микроэлектромеханические схемы), светодиоды и пр. Микроскопы серии MX могут быть оснащены для наблюдения по следующим методам контрастирования: светлое поле, темное поле, поляризованный свет, ДИК Номарского, флуоресценция, ИК. Эргономика органов управления обеспечивает комфорт работы на протяжении долгого времени.

Подберем анализатор
Онлайн за 30 секунд!
Пройти тест